Nytt mätmikroskop på Control
Hoffmann Group presenterar sitt nya mätmikroskop MM2 för större ytor, på mässan Control 2008 i Stuttgart 22-25 april.
Arbetsstycken i dimensioner xyz upp till 300 x 200 x 200 mm kan utan problem placeras på det nållagrade korsbordet. Ändå uppnår MM2 en mätnoggrannhet på hela 2,9 µm. Den automatiska mätpunktsregistreringen gör att mätresultaten kan reproduceras med hög repeternoggrannhet. Bästa kombination av påfallande ljus och genomlysning kan väljas, oberoende av arbetsstyckets egenskaper. En diodlaser möjliggör snabb och enkel positionering. Mikroskopet medger mätning och konstruktion av 2D-geometrier (punkt, cirkel, radie etc.) liksom utvärdering av form- och lägestoleranser. Garant mätmikroskopMM2.jpg