På väg mot nanovärlden
En explosionsartad utveckling av nya mätprobar och kombinationer av dem i multisensor mätceller för produktionsmiljö. På Control visades hur det öppnar för flexibla lösningar i jakten på kvalitetssäkrade produkter.
Om någon frågar dig hur mycket ditt hår växer på en månad, så svarar du nog något i stil med en cm. Men vad blir det på en sekund? Jodå, faktiskt fem nanometer...
Med den känslan i bakhuvudet ska vi möta den mättekniska utvecklingen på Stuttgartmässan.
Framåt för probar
Kombinationer av probar för olika ändamål, på en ramp för snabba byten i t ex koordinatmätmaskiner eller multisensor. Det har vi sett sedan några år. Nu utvecklas också probarna själva mot allt högre noggrannheter. Vi fick en grundlig genomgång hos Werth (som säljs av Nyli i Sverige) av dr Zhichao Li, som är försäljningsdirektör vid Werths nyöppnade kontor i Kina. Dussinet avancerade probar fanns nu framtagna, och premiärer var det på Control för dels mikroproben Werth Fiber Probe WFP och dels Werth Interferometer Probe WIP, bild 2.
Den förstnämnda har en mycket liten glaskula, diameter ner till 20 µm, vars rörelser mäts med optiska sensorer. WFP mäter upp 3D strukturer med försumbar kraft mot objektet: kraften sägs vara mindre än en tusendels Newton! På plats i Werths nya extremt noggranna mätmaskin Video Check UA (UA står för Ultra Accuracy) ska man kunna nå mätfel på några få tiondels µm.
Samma precision som hos WFP, men beröringsfritt uppmätt, sades vara möjlig med proben WIP monterad i en av Werths multisensor CMM. WIP är en fiberoptisk avståndsmätare som med en interferensteknik mäter avstånd beröringsfritt djupt nere i oåtkomliga hålrum eller borrhål. WIP kan användas för att mäta geometri, form och ytfinhet. Mätspetsarna har diam 0,1 - 1 mm och mätlängder normalt mellan 5 och 50 mm eller i specialutföranden.
Av Stefan Hallberg