23948sdkhjf

Metallanalysator

Kontrollmetod introducerar nästa generation portabla analysinstrument från Oxford Instruments. Nya X-MET7000 är en robust och portabel metallanalysator med XRF(röntgenfluorescens).
Vanliga användningsområden är framför allt metallsortering och PMI (Positive Material Identification). X-MET7000 har marknadens tydligaste och största inbyggda pekskärm, menysystem på svenska, kompakt format och låg vikt, uppstartningstid på enbart 15 sekunder, batteritid upp till hela 10 timmar och rapportfil (PDF) direkt till USB-minne eller dator. Kemisk analys med föreslagen klass fås på några sekunder. X-MET7000-serien finns i versioner med både Silicon Pin Detector och Silicon Drift Detector (analys av även lätta element som Al, Mg, Si).

Kommentera en artikel
Utvalda artiklar

Nyhetsbrev

Sänd till en kollega

0.169